介電常數(shù)測(cè)試儀的操作說(shuō)明
介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
1.雙擊LCQ_DAT_GET.EXE文件,打開數(shù)據(jù)采集軟件,注意不要被防火墻關(guān)閉加載的組件.
2.首先點(diǎn)擊Power off按鈕，按鈕中字母變?yōu)镻ower on,同時(shí)界面中間的一條黑色條變?yōu)闉榧t色時(shí)，開始正常工作。選擇串口號(hào)，根據(jù)設(shè)備管理器里的端口根據(jù)括號(hào)里的COM號(hào)來(lái)選擇對(duì)應(yīng)的串口。
3.點(diǎn)擊TEST LQ按鍵,設(shè)備會(huì)自動(dòng)掃頻測(cè)試元器件的電感量,諧振頻率和Q值
4.數(shù)據(jù)的保存：點(diǎn)擊“保存數(shù)據(jù)“按鍵 ，將把所測(cè)數(shù)據(jù)保存在RFID_SAVE.txt文件中.可在右下角方框內(nèi)輸入保存文件的目錄,比如:d:\Qtest\ .如果不設(shè)置目錄,則文件保存在與LCQ_DAT_GET.EXE軟件同一目錄下.
5.如果沒(méi)有USB驅(qū)動(dòng),請(qǐng)安裝CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.